Test di un Transistor NPN con Ohmmeter: Letture Attese
Un multimetro analogico o digitale in **Modalità Diodo** (preferita) o **Scala Ohm Bassa** (×100, ×1k) può verificare le giunzioni di un BJT. **Rimuovere il transistor dal circuito**—percorsi paralleli invalidano le letture.
Modello di Giunzione NPN
Due giunzioni PN che condividono la Base (P):
- Giunzione BE: Emettitore (N++) → Base (P). Lato emettitore fortemente drogato.
- Giunzione BC: Base (P) → Collettore (N-). Lato collettore leggermente drogato. Area maggiore, rottura più alta.
Procedura di Test e Letture Attese (Modalità Diodo = Caduta di Tensione in Direzione)
| Test | Punta Rossa (+) | Punta Nera (−) | Polarizzazione Giunzione | Lettura Buona (Modalità Diodo) | Lettura Buona (Modalità Ohm) |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. BE in Direzione | Base (B) | Emettitore (E) | Direzione | 0.60 – 0.75 V | Bassa (centinaia Ω – pochi kΩ) |
| 2. BE in Controdirezione | Emettitore (E) | Base (B) | Controdirezione | OL (Open Loop) | Molto Alta / OL |
| 3. BC in Direzione | Base (B) | Collettore (C) | Direzione | 0.60 – 0.75 V | Bassa (simile a BE) |
| 4. BC in Controdirezione | Collettore (C) | Base (B) | Controdirezione | OL | Molto Alta / OL |
| 5. CE (Entrambe) | Collettore (C) | Emettitore (E) | Entrambe Contro. | OL | Molto Alta / OL |
| 6. EC (Entrambe) | Emettitore (E) | Collettore (C) | Entrambe Contro. | OL | Molto Alta / OL |
Interpretazione
- Due Cadute in Direzione (BE, BC) + Quattro OL = NPN Buono.
- BE in Direzione < BC in Direzione: Normale (Emettitore più drogato → VF leggermente più alta alla stessa corrente di test).
- Qualsiasi Bassa Resistenza / Bassa Tensione in Controdirezione: Giunzione in cortocircuito → **Guasto**.
- OL in Direzione: Giunzione aperta → **Guasto**.
- Basso CE Entrambi i lati: Transistor in cortocircuito (C-E in corto) → **Guasto**.
Avvertenze Critiche
- Polarità del Multimetro: **Modalità Diodo: Rossa = Anodo (+), Nera = Catodo (−).** *Alcuni multimetri economici invertono questa polarità in modalità Ohm.* Verificare con un diodo noto.
- Corrente di Test: La modalità diodo eroga ~1 mA. La modalità Ohm varia selvaggiamente (µA a mA). Le letture sono *qualitative*, non VF o R precisi.
- Test in Circuito: **Inaffidabile.** Resistenze, condensatori, altre giunzioni in parallelo distorcono le letture. Valido solo per cortocircuiti/aperture grossolane se si conosce lo schema.
- MOSFET/IGBT: Test diverso (Capacità di gate, Diodo di corpo). Questa procedura è solo per BJT.
Questo test conferma l'*integrità della giunzione*, non il *guadagno (β)* o la *velocità di commutazione*. Per test parametrici, utilizzare un tracciatore di curve o un tester di componenti.